同惠TH2826 高頻LCR數(shù)字電橋

• 應用

• ■無源元件

   電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件等的阻抗參數(shù)評估和性能分析

  ■半導體元件

   LED驅動集成電路寄生參數(shù)測試分析；變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析

  ■其它元件

   印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估

   

  ■介質材料

   塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估

  ■磁性材料

   鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估

  ■半導體材料

   半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性

  ■液晶單元

   介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

• 技術參數(shù)

• 測試參數(shù)	C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
  測試頻率	TH2826	20 Hz～5MHz,10mHz步進
  測試信號電平	f≤1MHz	10mV～5V,±（10%+10mV）
  	f>1MHz	10mV～1V,±（20%+10mV)
  輸出阻抗	10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
  基本準確度	0.1%
  顯示范圍	L	0.0001 uH ～ 9.9999kH
  	C	0.0001 pF ～ 9.9999F
  	R,X,Z,DCR	0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
  	Y, B, G	0.0001 nS ～ 99.999 S
  	D	0.0001 ～ 9.9999
  	Q	0.0001 ～ 99999
  	θ	-179.99°～ 179.99°
  測量速度	快速: 200次/s（f﹥30kHz） ,100次/s（f﹥1kHz） 中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
  校準功能	開路 / 短路點頻、掃頻清零，負載校準
  等效方式	串聯(lián)方式, 并聯(lián)方式
  量程方式	自動, 保持
  顯示方式	直讀, Δ, Δ%
  觸發(fā)方式	內(nèi)部, 手動, 外部, 總線
  內(nèi)部直流偏	電壓模式	-5V ～ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步進
  置源	電流模式（內(nèi)阻為50Ω）	-100mA ～ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步進
  比較器功能	10檔分選及計數(shù)功能
  顯示器	320×240點陣圖形LCD顯示
  存儲器	可保存20組儀器設定值
  接口	USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)
  	USB HOST(FAT16 and FAT32 support)
  	LAN(LXI class C support)
  	RS232C
  	HANDLER
  	GPIB（選件）

   

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